1913年英國物理學(xué)家布拉格父子（W.H.Bragg，W.L.Bragg）在勞厄發(fā)現的基礎上，不僅成功地測定了NaCl、KCl等的晶體結構，并提出了作為晶體衍射基礎的著(zhù)名公式──布拉格方程：2d sinθ=nλ

　　式中λ為X射線(xiàn)的波長(cháng)，n為任何正整數。

　　當X射線(xiàn)以掠角θ（入射角的余角）入射到某一點(diǎn)陣晶格間距為d的晶面上時(shí)（圖1），在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線(xiàn)。布拉格方程簡(jiǎn)潔直觀(guān)地表達了衍射所必須滿(mǎn)足的條件。當X射線(xiàn)波長(cháng)λ已知時(shí)（選用固定波長(cháng)的特征X射線(xiàn)），采用細粉末或細粒多晶體的線(xiàn)狀樣品，可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射，測出θ后，利用布拉格方程即可確定點(diǎn)陣晶面間距、晶胞大小和類(lèi)型；根據衍射線(xiàn)的強度，還可進(jìn)一步確定晶胞內原子的排布。這便是X射線(xiàn)結構分析中的粉末法或德拜-謝樂(lè )（Debye—Scherrer）法（圖2a）的理論基礎。而在測定單晶取向的勞厄法中（圖2b）所用單晶樣品保持固定不變動(dòng)（即θ不變），以輻射束的波長(cháng)作為變量來(lái)保證晶體中一切晶面都滿(mǎn)足布拉格方程的條件，故選用連續X射線(xiàn)束。如果利用結構已知的晶體，則在測定出衍射線(xiàn)的方向θ后，便可計算X射線(xiàn)的波長(cháng)，從而判定產(chǎn)生特征X射線(xiàn)的元素。這便是X射線(xiàn)譜術(shù)，可用于分析金屬和合金的成分。